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1. LCD VISION検査設備

LCD VISION検査設備のTFT、C/FなどTFT-LCD用パネルのパターン検査設備は、DITの優れた技術力と量産対応力で業界を先導しています。

ディスプレイのAMORED用Vision検査設備の受注も増えている傾向です。その他にも、当社の核心技術である映像処理技術を基に、新しい産業分野へ進出して新規ビジネスを創出する為、努力を惜しまないです。

LCD 영상처리 기술에 대한 이미지

設備仕様

区分 パターン検査 高速レビュー ムラ検査 高速測定
検査類型  パターン不良 欠陥レビュー 膜コーティン
グ後のムラ
パターンの線幅
Critical Dimension
検査対象 TFT (Gate, Source & Drain, Active, Passivation, Pixel)
C/F (Black Matrix, Red, Green, Blue, Over Coat, Column Spacer, ITO1), Final, Mask)
COA2) 工程 (検査対象は上記のTFT, C/Fと同一)
Black Matrix Critical Dimension
IPL(ITO Patterning
Line) critical Dimension
パターンの線幅
検査項目 Open, short, protrusion, pinhole, Foreign Materials,
Mask Defect, Edge Crack, Pad(電極部)
検査
Slit Mura, Area Mura, Spot Mura etc. セルの横の大きさ(A)
セルの縦の大きさ(B)
横セル間の大きさ(C)
縦セル間の大きさ(D)
検査時間 20sec. ~ 60sec.
( Processing time is scalable )
40point/60sec.
(8G 기준, Loading, Unloading 포함)
20sec. ~ 60sec.
( Processing time is scalable )
1 sec. / point

* 注1) Indium Tin Oxide
* 注2) Color Filter On Array

2. AMOREDのVISION検査設備

次世代ディスプレイとして注目されているAMORED用の生産ラインの大規模拡大により、当社はTFT-LCD分野でのノウハウを活かし、一層強化のAMOREDの高解像度の検査需要に応じています。

設備仕様

区分 パターン検査 Metal Mask 高速レビュー Auto Macro CSG
検査類型 パターン不良 METAL MAS不良 欠陥レビュー 膜コーティング後のムラ シーラント
検査対象 OLED Panel (LTPS, Mask, Even 工程後の厚さ/Off Set 測定器) ELS 工程後のムラ, 有機絶縁膜のムラ シーラントが印刷されたCover Glass
検査項目 Open, short, protrusion, pinhole, Foreign Materials, Mask Defect Edge Crack Slit Mura, Area Mura, Spot Mura etc. シーラント切れ/ 破裂 / 異物検査, 高さ / 幅 / 位置精密度の測定
検査時間 20sec. ~ 60sec.
( Processing time is scalable )
40point/60sec. (8G 基準, Loading, Unloading 含む) 20sec. ~ 60sec. (Processing time is scalable) 全面検査 : 50sec. ~ 60sec. 高さ測定 : 8.3sec/point

3. フィルムのVISION検査設備

DITのフィルムのVISION検査設備はLCD用偏光フィルム、ディスプレイ用の光学フィルム及びハードコーティングフィルムなど、国内外フィルム製造業者のRoll-To-Roll生産工程に幅広く適用されています。

また、FPD用の検査技術のノウハウを活用、競争会社に比べ、優れた検出力と高速検査で市場占有率を高めています。

設備仕様

区分 偏光フィルム 機能性フィルム ブランケットシートのRoll原板
検査対象
  • - TAC
  • - PVA
  • - PF
  • - NCF
  • - SP
  • - TAC
  • - TAC +
  • - コーティング/表面処理
  • - PE + PSA + PF
  • - SP 位相差フィルム
- ディスプレイパネルの印刷用 ブランケットシートのRoll原板
検査項目 異物、気泡、凹み不良、スクラッチ、ムラ欠陥
検査時間 Max 40.0 (M/min)
( Processing time is scalable )
  • * 注1) 検査対象の訳語解説
  • -TAC : Triacetylcellulose (偏光膜支持フィルム)
  • -PVA : Polyvinyl Alcohol (偏光板機材フィルム)
  • -PF : Protection Film (偏光保護フィルム)
  • -NCF : Non-Conductive Film (非電導性フィルム)
  • -SP : Seperatable Protection Film (離型フィルム)
  • -PSA : Pressure Sensitive Adhesive (粘着フィルム)
  • -PE : Polyethylene Film (保護フィルム)

偏光フィルムの構造

その他の産業分野

上記のディスプレイやフィルム産業以外にもガラス破砕VISION検査設備、ソラーセルVISION検査設備、X-Ray  Detector VISION検査設備などVISION  Solutionが必要な産業全般にかけてVISION検査設備の開発/製造力を持っています。

VISION Biz. Inquiry - Tel : +82-31-831-7010 / e-mail :sw7175@diteam.co.kr